WGJSTD-B介質損耗及介電常數測試儀

本儀器的測試回路可用被測元件L、主調諧電容C、回路的損耗電阻R構成的串聯電路來等效，當測試回路諧振時（高頻信號源輸入信號的頻率為諧振頻率w₀），主調電容上的電壓是信號源輸入電壓的Q倍，或Q=w₀L/R=1/w₀CR，顯然信號源頻率w₀的穩定度和精度、主調電容C的精度和分辨率、測試回路的高頻損耗R決定了儀器的品質。模擬式的信號源穩定性差，主調電容的分辨率和讀數精度低，使用復雜，并且不可避免地存在主觀的操作誤差。

WGJSTD-B傳承*代WGJSTD-A數碼化、人性化設計理念，采用數字化主調電容、LCD大屏幕液晶顯示全參數、DDS直接數字合成信號源三項創新技術，使WGJSTD-B的技術性能、使用功能大為提升,*改變了老款面板上印制的二組輔助表格計算LCQ的落后狀況，WGJSTD-B讀數清晰,無須換算，操作簡便，特別適合電子元器件的質量分析、品質控制、科研生產,也可用于高等院校的材料科學、電子信息、電子通信、等專業作科研實驗儀器。